創(chuàng)芯檢測(cè)中心客戶端，創(chuàng)芯檢測(cè)app為在線檢測(cè)中心的手機(jī)客戶端軟件，可以登錄體驗(yàn)旗下高端的芯片檢測(cè)服務(wù)，幫您查看設(shè)備芯片的詳細(xì)構(gòu)造以及技術(shù)支持，獲取專業(yè)IC檢測(cè)機(jī)構(gòu)認(rèn)證，對(duì)芯片產(chǎn)品感興趣的朋友們可以下載試試哦！本站帶來(lái)創(chuàng)芯檢測(cè)app安卓版下載。

應(yīng)用介紹

創(chuàng)芯檢測(cè)APP為您提供便捷的芯片檢測(cè)等相關(guān)服務(wù)。深圳創(chuàng)芯在線檢測(cè)技術(shù)有限公司（以下簡(jiǎn)稱：創(chuàng)芯檢測(cè)）于2018年成立。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上，可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。創(chuàng)芯檢測(cè)始終秉持"專業(yè)，權(quán)威，高效，創(chuàng)新"的宗旨，重金購(gòu)置國(guó)際先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備，測(cè)試嚴(yán)格遵照國(guó)際檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及方法，現(xiàn)已取得CNAS認(rèn)證并獲國(guó)際互認(rèn)資質(zhì)，客戶群涵蓋海內(nèi)外多個(gè)國(guó)家和地區(qū)，是國(guó)內(nèi)素質(zhì)過(guò)硬、知名度高的專業(yè)IC檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

軟件功能

IC 真假鑒別

IC( Integrated Circuit 集成電路)是指將很多的微電子元器件(如晶體管、電阻、電容、二極管等)集成的集成電路 放在一塊塑料基板上，做成的一塊芯片。IC芯片的概念廣義的講，就是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱。

功能和溫度測(cè)試

關(guān)鍵功能測(cè)試又稱為主要功能檢測(cè)。指在特定工作條件（即器件正常使用環(huán)境，通常為常溫），器件正常工作的狀態(tài)下，進(jìn)行各種必要的邏輯或信號(hào)狀態(tài)測(cè)試。此測(cè)試依據(jù)原廠規(guī)格書(shū)以及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范，設(shè)計(jì)可行性測(cè)試向量或?qū)Ｓ脺y(cè)試電路，對(duì)檢測(cè)樣片施加相應(yīng)的信號(hào)源輸入，通過(guò)外圍電路的調(diào)節(jié)控制、信號(hào)放大或轉(zhuǎn)換匹配等特定條件，分析信號(hào)的邏輯關(guān)系及輸出波形的變化狀態(tài)，檢測(cè)器件的功能特性。

失效分析

通過(guò)專業(yè)失效分析設(shè)備，借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機(jī)理，確認(rèn)最終的失效原因，并提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議，防止失效的重復(fù)出現(xiàn)。

RoHS檢測(cè)

根據(jù)歐盟標(biāo)準(zhǔn)要求，將產(chǎn)品拆分為單一材質(zhì)既均一材質(zhì)后進(jìn)行測(cè)試，其中鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)等六種有害物質(zhì)是否符合RoHS指令要求，最高限令標(biāo) 準(zhǔn)：鎘：0.01%（100PPM）；鉛、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)0.01%（1000PM）

外觀檢測(cè)

外觀測(cè)試是指確認(rèn)收到的芯片數(shù)量，內(nèi)包裝，濕度指示，干燥劑要求和適當(dāng)?shù)耐獍�裝。其次對(duì)單個(gè)芯片進(jìn)行外觀檢測(cè)，主要包括：芯片的打字，年份， 原產(chǎn)國(guó)，是否重新涂層，管腳的狀態(tài)，是否有重新打磨痕跡，不明殘留物，廠家logo的位置。

丙酮檢測(cè)

丙酮檢測(cè)是用一定濃度的丙酮對(duì)芯片正表面的絲印進(jìn)行有規(guī)則地擦拭，其結(jié)果用于判斷芯片表面是否為重新印字。

X-Ray 檢測(cè)

X-ray測(cè)試是實(shí)時(shí)非破壞性分析以檢查元件內(nèi)部的硬件組件，主要檢查芯片的引腳框架，晶圓尺寸，金線綁定圖，ESD的損壞和孔洞， 客戶可提供良品進(jìn)行對(duì)比檢查。

公司簡(jiǎn)介

深圳創(chuàng)芯在線檢測(cè)技術(shù)有限公司（以下簡(jiǎn)稱：創(chuàng)芯檢測(cè)）于2018年成立。我公司擁有專業(yè)工程師及行業(yè)精英團(tuán)隊(duì)，建有標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)室3個(gè)，實(shí)驗(yàn)室面積1800平米以上，可承接電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析，功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。

2020年6月，為了進(jìn)一步拓展市場(chǎng)服務(wù)，創(chuàng)芯檢測(cè)全資收購(gòu)了深圳市英賽爾電子有限公司，加強(qiáng)在芯片分析方面的測(cè)試和分析開(kāi)發(fā)能力，現(xiàn)已開(kāi)發(fā)上千種功能測(cè)試板，快捷高效滿足大批量的測(cè)試需求。

中文名：創(chuàng)芯檢測(cè)

包名：uni.UNI589A0F7

MD5值：a052a4def8516c1e20403371d67e0fe6